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1
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Springer-Verlag New York
Manjul Bhushan
,
Mark B. Ketchen (auth.)
circuit
macro
shown
voltage
duts
measurement
frequency
measurements
mosfet
signal
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Année:
2011
Langue:
english
Fichier:
PDF, 3.83 MB
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english, 2011
2
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Springer-Verlag New York
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2011
Langue:
english
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PDF, 12.68 MB
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3
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english
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