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Peter W. Hawkes (Eds.)
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Catégories:
Engineering
Année:
1998
Edition:
1st
Editeur::
Elsevier, Academic Press
Langue:
english
ISBN 10:
0120147467
ISBN 13:
9780120147465
Collection:
Advances in Imaging and Electron Physics 104
Fichier:
PDF, 19.80 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 1998
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Mots Clefs

 
electron
13c
microscopy
13b
microscope
13a
optical
subject
analysis
effect
magnetic
m:l
lens
function
method
e89
scanning
e84
es:i
e90
e96
e83
d:l
current
dimensional
emission
contrast
imaging
diffraction
wave
devices
e93
algorithm
e91
matrix
equation
ray
e103
e97
e94
e87
systems
e82
transfer
e86
particle
linear
noise
coding
optics
transform
scattering
beams
transmission
density
e99
processing
technique
es:io
e88

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